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惊!高温老化温控不当将严重损坏MUR1660AC的寿命

返回列表来源:ASEMI 作者:Tina 发布日期:2015.03.17 浏览:-
摘要:惊!高温老化若是温控不当,情节严重将损坏MUR1660AC快恢复二极管寿命,您的企业中枪了吗 ?

高温老化温控不当的危害

高温老化若是温控不当,情节严重将损坏MUR1660AC快恢复二极管寿命,您的企业中枪了吗?

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正确看待高温老化问题

很多工厂朋友在做成品老化测试的时候选择高温老化试验,模拟恶劣的外部环境检验产品性能。

因为高温的环境下快恢复整流二极管MUR1660AC的漏电流会随着温度的升高逐渐变大,性能也就会线性下降,可以检测该产品的性能是否优越稳定与可靠性。

但如果是简易的高温烘烤就会带来诸多弊端,例如温度不均匀会造成部分正常测试,另部分会被过分的高温烧灼而损坏掉,造成MUR1660AC快恢复损坏而达不到老化测试的真实用意。

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MUR1660AC—强元芯良心推荐

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性能高品质优

ASEMI品牌快恢复二极管MUR1660AC采用高性能扩散高抗击芯片,内置90Mil大规格整流芯片;确保平均输出16A的电流;反向耐压值达到600V;正向压降1.05V;漏电流5ua;反向恢复时间35ns。

高品质的铜材质镀锡引脚与高品质的SIO2塑封硅胶,封装测试。引进台湾健鼎、冠魁一体化生产测试线,确保出货合格。ASEMI品牌快恢复二极管MUR1660AC是变频设备很好的选择。


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